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抗干扰介质损耗测试仪的结构

 
抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容器容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗,(tgδ)和电容器容量(Cx)它淘汰了QS高压电桥。抗干扰介质损耗测试仪具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在国内同类产品中速度蕞快)体积小、重量轻等特点。

测量电路:傅立叶变换、复数运算等全部计算和量程切换、变频电源控制等。

控制面板:打印机、键盘、显示和通讯中转。

变频电源:采用SPWM开关电路产生大功率正弦波稳压输出。

升压变压器:将变频电源输出升压到测量电压,蕞大无功输出2KVA/1分钟。

标准电容器:内Cn,测量基准。

Cn电流检测:用于检测内标准电容器电流,10μA~1A。输入电阻〈2Ω。

Cx正接线电流检测:只用于正接线测量,10μA~1A。输入电阻〈2Ω。

Cx反接线电流检测:只用于反接线测量,10μA~1A。输入电阻〈2Ω。

反接线数字隔离通讯:采用精密MPPM数字调制解调器,将反接线电流信号。



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